| Titre de série : |
Infrared and millimeter waves, Vol.8 |
| Titre : |
Electromagnetic waves in matter |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Kenneth J. Button |
| Editeur : |
New York : Academic press |
| Année de publication : |
1983 |
| Importance : |
435 p. |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
25 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-0-12-147708-0 |
| Langues : |
Anglais (eng) |
| Mots-clés : |
Matériaux -- Propriétés magnétiques
Matériaux -- Propriétés électriques
Dispositifs à ondes millimétriques |
| Index. décimale : |
621.37 Techniques des ondes électriques, des ondes électromagnétiques, des oscillations et impulsions électriques |
| Résumé : |
|
| Note de contenu : |
AU Sommaire:
*Properties of dielectric materials
*Far-infrared spectroscopy on high polymers
*Submillimeter solid-state physics
*Review of theory of infrared and far-infrared free-carrier behavior in semiconductors
*Review of recent improvements in pyoelectric detectors
*Cyclotron and zeeman transitions in photoexcitede semiconductors at far infrared
*High- temperature infrared reflectivity spectroscopy by scanning interferometry
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Infrared and millimeter waves, Vol.8. Electromagnetic waves in matter [texte imprimé] / Kenneth J. Button . - New York : Academic press, 1983 . - 435 p. : ill. ; 25 cm. ISBN : 978-0-12-147708-0 Langues : Anglais ( eng)
| Mots-clés : |
Matériaux -- Propriétés magnétiques
Matériaux -- Propriétés électriques
Dispositifs à ondes millimétriques |
| Index. décimale : |
621.37 Techniques des ondes électriques, des ondes électromagnétiques, des oscillations et impulsions électriques |
| Résumé : |
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| Note de contenu : |
AU Sommaire:
*Properties of dielectric materials
*Far-infrared spectroscopy on high polymers
*Submillimeter solid-state physics
*Review of theory of infrared and far-infrared free-carrier behavior in semiconductors
*Review of recent improvements in pyoelectric detectors
*Cyclotron and zeeman transitions in photoexcitede semiconductors at far infrared
*High- temperature infrared reflectivity spectroscopy by scanning interferometry
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